- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 40/00 - TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM] Étalonnage, p.ex. des sondes
Détention brevets de la classe G01Q 40/00
Brevets de cette classe: 92
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2362 |
9 |
| Infinitesima Limited | 62 |
8 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 34 |
7 |
| Bruker Nano, Inc. | 334 |
5 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 9632 |
3 |
| University Court of The University of ST Andrews | 305 |
3 |
| Seagate Technology LLC | 4228 |
2 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2646 |
2 |
| Ecole Normale Superieure de Lyon | 220 |
2 |
| Horiba Jobin Yvon SAS | 50 |
2 |
| Hysitron, Inc. | 35 |
2 |
| Universite Claude Bernard Lyon 1 | 921 |
2 |
| Veeco Instruments Inc. | 332 |
2 |
| Ouster, Inc. | 163 |
2 |
| Paris Sciences et Lettres - Quartier Latin | 170 |
2 |
| Sorbonne Universite | 1068 |
2 |
| Nearfield Instruments B.V. | 34 |
2 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
1 |
| International Business Machines Corporation | 60644 |
1 |
| Hitachi, Ltd. | 16452 |
1 |
| Autres propriétaires | 32 |